イナガキ ツトム   Tsutomu INAGAKI   稲垣　勉    所属   京都外国語大学  共通教育機構    職種   准教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2013/08
形態種別	論文
査読	査読あり
標題	Test-retest reliability and criterion-related validity of the Implicit Association Test for measuring shyness
執筆形態	共著
掲載誌名	IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
掲載区分	国内
巻・号・頁	E96-A,1768-1774頁
担当範囲	実験・分析および論文全体の執筆を担当。
著者・共著者	Fujii Tsutomu, Sawaumi Takafumi, Aikawa Atsushi
概要	潜在的なシャイネスを測定する潜在連合テストの再検査信頼性 (1週間間隔の相関：r = .67, p <.01) と基準関連妥当性 (自尊心IATとの相関：r = －.53, p <.01) を示した。また，相関係数の希薄化を修正した共分散構造分析によって潜在的自尊心と潜在的シャイネスの関係を検討し，仮説に一致して，両者は負の相関を持つことが示された (r = －.72, p <.01)。